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涂层测厚仪

  • 更新时间:  2020-09-26
  • 产品型号:  leeb232
  • 简单描述
  • 涂层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。
详细介绍

【主要功能】采用磁性和电涡流两种测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。● 中文菜单;● 两种工作方式;● 数据删除功能;● 对界限外的测量值能自动报警;● 电源欠压指示;● 手动和自动两种关机方式● 两种测量方式;● 可储存500个测量值;● 可设置界限;【技术参数】项目名称Leeb232测头类型F1和N1测量原理磁感应和电涡流测量范围0 ~ 1250um分辨率0.1um示值误差一点校准±(3%H+1)um二点校准±[(1~3)%H+1]um测试条件最小曲率半径凸1.5mm 凹9mm最小面积直径φ7mm基本临界厚度0.5mm工作环境温度0 ~ 40℃湿度20% ~ 90%电源AA碱性电池2节电压3V工作时间100小时外形尺寸130*70*25 mm重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、基体、F1和N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头PC通讯有仪器选用探头的技术数据探头F400F1F1/90F10N400N1CN02测量原理磁性涡流 测量范围(μm)0~4000~12500~10mm0~4000~1250010~200测量精度μm一点校准±[(1~3)%H+0.7]±(3%H+1)±(3%H+10)±(3%H+1)±(3%H+1.5)±(3%H+1)二点校准±(1~3%H+0.7)±[(1~3)%H+1]±[(1~3)%H+10]±[(1~3)%H+1]±[(1~3)%H+1.5]---低限分辨率0.10.110.10.11最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53仅为平面最小面积直径(mm)¢3¢7¢40¢4¢5¢7基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3无限制测头选用参考表覆盖层基体有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100μm覆盖层厚度超过100μm覆盖层厚度不超过100μm覆盖层厚度超过100μm如铁、钢等磁性金属被测面积直径大于30mmF400型测头0~400μm F1型测头0~1250μmF1型测头0~1250μm F10型测头0~10μmF400型测头0~400μm F1型测头0~1250μmF1型测头0~1250μm F10型测头0~10μm被测面积直径小于30mmF400型测头0~400μmF400型测头0~400μm F1型测头0~1250μmF400型测头0~400μmF400型测头0~400μm F1型测头0~1250μm如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属被测面积直径大于10mmN1型测头0~1250μmN400测头0~400μm仅用于铜上镀铬N1型测头0~40μm N400测头0~40μm被测面积直径大于10mmN400测头0~400μmN400测头0~40μm塑料、印刷线路非金属基体被测面积直径大于7mm----CN02型测头10~200μm


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